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简介
同方威视®XF2000手持矿石分析仪主要用于金属材料的可靠性鉴别、合金牌号快速识别、土壤重金属现场检测及各类地质矿样的野外原位多元素分析等,可充分满足从原料检测、生产过程控制到成品检验中各种元素成分的现场在线分析需求。
设备采用X射线荧光分析技术,具有快速,准确,无损,安全,轻巧及可手持测量等特点。设备引入小功率端窗一体化微型光管、大面积铍窗SDD硅漂移探测器及微型数字信号多道处理器等技术,大幅降低测试时间、提高检测精度、减少测试误差,具有与台式设备相近的测试性能。
产品特点
采用50KV/200uA-银靶小功率端窗一体化微型光管,功耗小,激发效率更高,计数率更大。
采用大面积铍窗SDD硅漂移探测器,分辨率最低可达125eV,处于国际先进水平,使手持式仪器具有与台式设备相近的测试性能。
仪器小巧、便携,便于现场工作及分析;无需制备样品,简单易用;一键式操作,测试结果一目了然。
三重安全防护功能:自动感应,无样品空测、2秒自动关闭X光管,工作时辐射水平远低于国际安全标准,无射线泄漏;加厚防护测试壁;配送测试防护安全罩。
超迷你防水USB连接PDA主机和外接台式机、GPS集成、自主研发专用元素分析软件。
内置高清晰摄像头,可以随时观察被测样品的测试位置,方便用户现场取证和追溯。
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